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  • HEST-600高温四探针测量系统

    HEST-600高温四探针测量系统,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

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  • 金属导电材料高温四探针测试仪HEST-600

    金属导电材料高温四探针测试仪HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

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  • 高分子导电材料高温四探针测试仪HEST-600

    高分子导电材料高温四探针测试仪HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

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  • 复合导电材料高温四探针测试机HEST-600

    复合导电材料高温四探针测试机HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

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  • 触摸屏高温四探针测试机HEST-600

    触摸屏高温四探针测试机HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

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  • 操控性好高温四探针测量系统HEST-600

    操控性好高温四探针测量系统HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

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  • 兼容性好高温四探针测试装置HEST-600

    兼容性好高温四探针测试装置HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

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  • 抗干扰处理高温四探针测试装置HEST-600

    抗干扰处理高温四探针测试装置HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

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  • 精度高高温四探针测试装置HEST-600

    精度高高温四探针测试装置HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

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  • 速度平稳高温四探针测试装置HEST-600

    速度平稳高温四探针测试装置HEST-600,该系统可以测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻,该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

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